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光学检测仪和激光干涉仪

Dyna MZ-Ⅳ动态干涉仪

    

Dyna MZ-Ⅳ动态干涉仪广泛用于航天、天文等精密光学领域的大口径元件与长光程系统测量,可抑制振动和气流的影响。



仪器规格参数表:


分辨率

2× 2K(可选4× 3K

采样速率

75/S

曝光时间

最短6μS

样品反射率

0.01%100%无需衰减器(适用于三/四反系统)

RMS重复性

λ/10000

RMS精度

λ/100

标准口径

9mm,可选配扩束器口径50800mm

显示

对点成像同步显示

选配镜头

F#1.03.05.0、7.0、10、13、16、25标准球面镜头等(可根据客户要求定制)

重量

主机5KG

电源

220V 50Hz

尺寸

主机260×160×140mm,电源475×260×230mm

特殊分析

Seidel像差、MTF、点列图、功率谱密度分析、Zernike多项式系数、Legendre多项式






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