Dyna MZ-Ⅳ动态干涉仪广泛用于航天、天文等精密光学领域的大口径元件与长光程系统测量,可抑制振动和气流的影响。
仪器规格参数表:
分辨率
2K × 2K(可选配4K × 3K)
采样速率
75帧/S
曝光时间
最短6μS
样品反射率
0.01%~100%无需衰减器(适用于三/四反系统)
RMS重复性
λ/10000
RMS精度
标准口径
9mm,可选配扩束器口径50~800mm
显示
对点成像同步显示
选配镜头
F#1.0、3.0、5.0、7.0、10、13、16、25标准球面镜头等(可根据客户要求定制)
重量
主机5KG
电源
220V 50Hz
尺寸
主机260×160×140mm,电源475×260×230mm
特殊分析
Seidel像差、MTF、点列图、功率谱密度分析、Zernike多项式系数、Legendre多项式
λ/100